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陈万军 教授(校外)
2014-02-27 16:54     (阅读:)

职  称:教授

出生年月: 1978年9月

电子邮件:wjchen@uestc.edu.cn

 

【个人简介】

陈万军,男,教授,生于1978年,博士。2007-2010年在香港科技大学从事博士后研究工作。2008.03年开始在电子科技大学微电子与固体电子学院工作。


【研究方向】

1.微系统集成与三维封装测试

2.集成电路设计与制造

3.RF SOC设计


【在研项目】

1.硅基GaN功能集成与硅工艺融合技术研究,国家科技02重大专项,课题负责人

2.IGBT芯片设计,国家科技02重大专项,课题负责人

3.GaN异质结器件场控能带模型(FCE)与新结构,国家自然科学基金,课题负责人

4.高压XXX,部级预研,课题负责人


【完成项目】

1.高性能AlGaN/GaN复合阳极场控功率整流器新结构及模型,国家自然科学基金,课题负责人,2012年完成

2.新型GaN高压功率晶体管基础研究,中央高校基本科研业务费,课题负责人,2011年完成

3.增强型AlGaN/GaN HEMT高压功率器件研究,教育部博士点新教师基金,课题负责人,2012年完成

4.硅基氮化镓(GaN)功率集成关键技术及基础理论研究,电子薄膜与集成器件国家重点实验室创新基金,课题负责人,2012年完成

 

【发表论文】

1.High-performance AlGaN/GaN lateral field-effect rectifiers compatible with high electron mobility transistors”, Appl. Phys. Lett., vol. 92, 253501, 2008,SCI检索,第1作者

2. Single-Chip Boost Converter Using Monolithically Integrated AlGaN/GaN Lateral Field-Effect Rectifier and Normally-off HEMT” , IEEE Electron Devices Letters, vol. 30, No.5 pp. 430-432, 2009, SCI检索,第1作者

3.Monolithic Integration of Lateral Field-Effect Rectifier with Normally-off HEMT for GaN-on-Si Switch-mode Power Supply Converters”, International Electron Devices Meeting (IEDM 2008), San Francisco, pp.141-144, Dec. 15-17, 2008,顶级国际会议,第1作者

4.Realizing high voltage SJ-LDMOS with non-uniform N-buried layer”, Solid-State Electronics, vol. 52 (2008), pp. 675-678. SCI检索,第1作者

5.Analysis and reduction of the gate forward leakage current in AlGaN/GaN HEMTs employing energy-band modulation technology, Solid-State Electronics,2013.02,SCI检索,第1作者

6.Investigation of device geometry- and temperature-dependent characteristics of AlGaN/GaN lateral field-effect rectifier, SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY,2013.01,SCI检索,第1作者

7.High-current-density high-voltage normally-off AlGaN/GaN hybrid-gate HEMT with low on-resistance, IET Electronics Letters,2010.11,SCI检索,第1作者

8.Schottky-Contact Technology in InAlN/GaN HEMTs for Breakdown Voltage Improvement, IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2013,p1075-1081, SCI检索,第2作者

9.Schottky-Ohmic Drain AlGaN/GaN Normally-Off HEMT with Reverse Drain Blocking Capability”,   IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, vol. 31, No. 7, 2010.07,SCI检索,第2作者

10.Characterization and analysis of the temperature-dependent on-resistance in AlGaN/GaN lateral field-effect rectifiers”, IEEE Transactions on Electron Devices, Vol. 57, No. 8, 2010.08,SCI检索,第2作者

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